倫敦2021年3月25日 /美通社/ -- 全球領先的半導體測試插座和測試應用解決方案供應商史密斯英特康宣布推出其應用于外圍IC測試的Joule 20高頻測試插座。

當前隨著5G等高速通訊標準的升級，新的RF芯片廣泛應用于手機，平板，可穿戴設備，無人駕駛汽車等移動設備，對RF射頻測試插座的需求越來越多，標準也越來越高。Joule 20出色的接觸技術和高頻能力有效的保證了信號傳輸的可靠性和完整性。此外，其創新的設計結構可允許拆卸測試插座外殼而無需將其從PCB板上卸下，在設備測試期間仍然可進行清潔和維護工作，從而大大減少了設備停機時間并提高了測試產量。

Joule 20射頻測試插座具有出色的機械和電氣性能：

• 插入插槽，匹配現有的PCB插槽尺寸
• 極短的信號路徑，可提供高達20 GHz的高帶寬
• 芯片和PCB之間的接觸電阻非常低，從而提高了測試良率
• 高頻能力確保信號完整性和可靠性
• 散熱能力支持從-40°C到+125°C
• 接觸壽命長，最多插拔次數可達到500,000次

 “近年來數字時代的加速發展，對新的消費電子產品以及自動駕駛汽車產生了巨大的需求。集成電路的速度變得越來越快，功能越來越復雜，這就要求更高的測試可靠性和更少的測試時間以將產品快速推出市場。” 史密斯英特康半導體測試業務部副總裁兼總經理Bruce Valentine說。 “史密斯英特康的研發腳步也不敢懈怠，Joule 20射頻測試插座的解決方案可以大大提高測試生產量以及滿足對外圍封裝技術（QFN，QFP和SOIC）更快，更可靠且可重復的測試需求。”

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